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基本信息

  • 需求名称:
    二手电镜 S-3400N 日立 电镜 HITACHI SEM
  • 仪器种类:
    电镜设备
  • 价格区间:
    50万以上
  • 年限:
    5年以上
  • 仪器状态:
    无故障正常运行
  • 仪器来源:
    企业
  • 需求描述:


    4.jpg

    规格参数: 

    1. 仪器的基本信息: 

    仪器名称:扫描电子显微镜 

    英文名:Scanning Electron Microscope 

    型号:Hitachi S-3400N 

    产地:日本 

    购买时间:2013年 2月

    2.仪器的用途: Hitachi S—3400N型扫描电子显微镜,主要用于对材料的微观形貌、组织和成分进行有效分析。

     3.仪器的性能指标: 

    1)分辨率 二次电子探头:≤3.0 nm(在30kV,高真空模式),≤10 nm(在3 kV,高真空模式);被散射探头:≤4.0 nm(在30kV,低真空模式)。

     2)加速电压:0.3kV~30kV连续可调。 

    3)放大倍数:最低倍率5倍,最高倍率300,000倍。 

    4)真空系统 ①具有低真空功能,高低真空切换,不需要安装压差光阑; ②真空度:高真空不低于0.1 mPa;低真空(压力范围):10 Pa—270 Pa; 

    5)电子光学系统 ①电子枪:钨灯丝,具有自动偏压+4级偏压功能; ②聚光镜光阑完全安装在长内衬管内,可自行更换聚光镜光阑。

     6)样品室和样品台 ①样品台尺寸:装载直径≥200 mm样品; ②样品台(五轴样品台,2轴马达驱动功能); ③ 行程:X=100 mm;Y=50 mm;Z=50 mm;R=3600;T=-20~+900;

     7)探测器及成像系统 ① 二次电子探测器:二次电子像;高灵敏5分割背散射电子探测器:成分像、形貌像和三维像; ②成像模式:同时得到二次电子像,背散射电子像,两种图像混合像;

     4.结果展示: 


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2020-12-04 广东省深圳市 来自:仪器无忧网
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