二手电镜 S-3400N 日立 电镜 HITACHI SEM

规格参数： 

1. 仪器的基本信息： 
   

仪器名称：扫描电子显微镜 

英文名：Scanning Electron Microscope 

型号：Hitachi S-3400N 

产地：日本 

购买时间：2013年 2月

2.仪器的用途： Hitachi S—3400N型扫描电子显微镜，主要用于对材料的微观形貌、组织和成分进行有效分析。

 3.仪器的性能指标： 

1）分辨率 二次电子探头：≤3.0 nm（在30kV，高真空模式)，≤10 nm（在3 kV，高真空模式)；被散射探头：≤4.0 nm（在30kV，低真空模式)。

 2）加速电压：0.3kV～30kV连续可调。 

3）放大倍数：最低倍率5倍，最高倍率300,000倍。 

4）真空系统 ①具有低真空功能，高低真空切换，不需要安装压差光阑； ②真空度：高真空不低于0.1 mPa；低真空（压力范围）：10 Pa—270 Pa； 

5）电子光学系统 ①电子枪：钨灯丝，具有自动偏压+4级偏压功能； ②聚光镜光阑完全安装在长内衬管内，可自行更换聚光镜光阑。

 6）样品室和样品台 ①样品台尺寸：装载直径≥200 mm样品； ②样品台（五轴样品台，2轴马达驱动功能）； ③ 行程：X=100 mm；Y=50 mm；Z=50 mm；R=3600；T=-20～+900；

 7）探测器及成像系统 ① 二次电子探测器：二次电子像；高灵敏5分割背散射电子探测器：成分像、形貌像和三维像； ②成像模式：同时得到二次电子像，背散射电子像，两种图像混合像；

 4.结果展示：